Anritsu 安立知宣布，村田制作所 (Murata Manufacturing) 使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀，成功解析了 USB 3.2 通訊過程中導致雜訊產(chǎn)生的機制。

安立知助力村田制作所開發(fā) USB 3.2 雜訊抑制解決方案

USB 3.2 通訊過程中所產(chǎn)生的高頻雜訊會導致無線區(qū)域網(wǎng)路 (WLAN) 和 Bluetooth 無線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質(zhì)下降等主要問題。

村田 Murata 建立了符合 USB-IF 標準組織 USB 3.2 RFI 系統(tǒng)級測試的電磁雜訊測試環(huán)境，并於該環(huán)境中使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀/訊號分析儀 MS2830A，厘清了導致雜訊產(chǎn)生的機制。

Anritsu 安立知致力於建立雜訊抑制解決方案，其結合了村田 Murata 在雜訊控制方面的專業(yè)技術和共模扼流線圈，可在保持訊號完整性的同時有效抑制雜訊。