半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測試 (Advantest Corporation)日前發(fā)表兩款最新通用型硬體設(shè)備500MDM數(shù)位模組與DPS32A電源供應(yīng)模組，擴充旗下T2000測試平臺功能，涵蓋諸如系統(tǒng)單晶片 (SoC)元件、電源管理IC、車用元件和CMOS影像感測器等應(yīng)用，以因應(yīng)日益成長的數(shù)位轉(zhuǎn)型市場。兩款新硬體皆相容於現(xiàn)有測試系統(tǒng)，如T2000 AiR平臺輕巧的設(shè)計能因應(yīng)各類環(huán)境限制，從工程實驗室到量產(chǎn)制造現(xiàn)場都適用。

愛德萬T2000測試平臺最新數(shù)位模組與電源供應(yīng)模組進一步擴充測試功能、提升成本效益

現(xiàn)今行動電子市場快速成長，大量制造的半導(dǎo)體元件皆強調(diào)低功率運行，以延長電池續(xù)航力。為了測試這些IC元件，不僅需要小電流和迅捷的處理速度，還要能進行高精度的叁數(shù)量測，以及具備高精度的輸出電壓源和夠深的掃描圖樣記憶體(Scan pattern memory)。

為了在T2000測試平臺滿足上述需求，愛德萬測試推出最新128通道氣冷式500MDM數(shù)位模組，能處理資料傳輸速率達500Mbps的元件，除了超大32-Gbit掃描圖樣記憶體外，更為所有32 I/O通道設(shè)計專用的高效能叁數(shù)量測單元，將T2000系統(tǒng)的電流容量進一步擴充至每I/O通道60豪安(mA)。

藉由最新的32mA DPS32A元件的電源供應(yīng)，都能因應(yīng)任何類型的消費性電子元件。升級後的系統(tǒng)具有32個通道，提供4伏特電壓/1安培電流，其高解析度叁數(shù)量測與持續(xù)采樣功能，能支援Delta-IDDQ量測與IDD頻譜量測等最新測試方法。此外，與前代DPS500mA電源供應(yīng)模組相比，新系統(tǒng)具備量測超低待機電流的能力。

T2000 AiR氣冷式測試平臺，特別針對研發(fā)與量產(chǎn)測試成本效益的提升進行優(yōu)化設(shè)計，與市面上其他氣冷式測試機相較，能提供最快的作業(yè)速度和最大的掃描圖樣記憶體。其模組化結(jié)構(gòu)能發(fā)揮最大彈性，最新500MDM和DPS32A都能裝載進來。再者，由於T2000 AiR不需要連接外部循環(huán)冷卻水，因此哪里都可以安裝。除此之外，T2000 AiR的軟體亦能與擴充性絕隹的T2000系列產(chǎn)品完全相容。

愛德萬測試T2000事業(yè)單位??總Toshiaki Adachi表示：「我們兩款最新硬體單元進一步拓展了T2000測試平臺功能，滿足投入穿戴式電子等物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 產(chǎn)品相關(guān)研發(fā)生產(chǎn)之IDM廠、晶圓廠和半導(dǎo)體IC設(shè)計公司的測試需求。新設(shè)備的模組化設(shè)計與相容性，不僅能協(xié)助客戶節(jié)省資本支出，亦符合愛德萬測試的產(chǎn)品組合策略。」

500MDM數(shù)位模組與DPS32A電源供應(yīng)模組皆已開始向客戶出貨。