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    Tektronix推出Keithley S540功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng)
    [SmartAuto 編輯部 報(bào)導(dǎo)]   2016年11月03日 星期四 瀏覽人次: [8895]

    Tektronix(太克科技)推出Keithley S540功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng),這是為高達(dá)3kV的功率半導(dǎo)體裝置和結(jié)構(gòu)提供的全自動48針腳參數(shù)測試系統(tǒng)。完全整合的S540是專為與最新複合功率半導(dǎo)體材料 (包括碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN)) 搭配使用而進(jìn)行最佳化處理,可在一次探頭接入中執(zhí)行所有高壓、低壓和電容等測試。

    專為最新的功率半導(dǎo)體裝置所提供的全自動高速晶圓級參數(shù)測試解決方案,包括高達(dá)3 kV的SiC和GaN。
    專為最新的功率半導(dǎo)體裝置所提供的全自動高速晶圓級參數(shù)測試解決方案,包括高達(dá)3 kV的SiC和GaN。

    隨著對功率半導(dǎo)體裝置的需求不斷提高,同時(shí),SiC和GaN也日益商業(yè)化,製造商正在生產(chǎn)製程中採用晶圓級測試,以有效提升良率並改善盈利能力。針對這些應(yīng)用,S540顯著地縮短了測試時(shí)間和測試設(shè)定時(shí)間,並減少了佔(zhàn)用空間,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室級高電壓量測效能,進(jìn)而降低了擁有成本。

    Tektronix的Keithley產(chǎn)品系列總經(jīng)理Mike Flaherty表示:「許多晶圓廠正使用自訂的混合測試系統(tǒng)來執(zhí)行功率半導(dǎo)體測試,在從低電壓測試轉(zhuǎn)向高電壓測試時(shí),需手動變更測試設(shè)定。正如您所預(yù)期,這會增加製程步驟並拖慢生產(chǎn)速度。相較之下,S540是一款完全整合的解決方案,特別適合必須迅速測試各種裝置的生產(chǎn)環(huán)境。」

    為提供生產(chǎn)級效能,S540可在高達(dá)48針腳上執(zhí)行參數(shù)量測,而不需更換電纜或探棒卡設(shè)施,還可執(zhí)行高達(dá)3kV的電晶體電容量測,如Ciss、Coss和Crss,而無需手動重新配置測試針腳。S540還提供了pA級量測效能,可在不到1秒內(nèi)執(zhí)行全自動高壓洩漏電流測試,進(jìn)一步提升了測試產(chǎn)出量。

    S540為標(biāo)準(zhǔn)商業(yè)化產(chǎn)品,提供了可完整追蹤的系統(tǒng)規(guī)格、安全相容性、診斷功能,以及全球性服務(wù)和支援,而這些都視內(nèi)部開發(fā)或自訂的系統(tǒng)常無法提供的功能。S540秉承了Keithley 30餘年的半導(dǎo)體參數(shù)經(jīng)驗(yàn),完美整合了半導(dǎo)體測試儀器與高低電壓切換矩陣、連接纜線、探棒卡轉(zhuǎn)接器、探測器驅(qū)動程式和測試軟體。

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